피크 분석을 사용한 변이점 찾기

하나 또는 여러 개의 개체 일반적인 의미에서, 개체란 용어는 클래스 인스턴스의 의미와 함께 이해해야 합니다. EasyObject에서 개체는 레이어 전경에 속한 연결된 인접 픽셀의 최대 크기의 면적입니다. 에지와 교차하는 라인 세그먼트 프로브를 따라 모든 변이점의 위치를 찾고, 가장 관련성 높은 항목을 선택할 수 있습니다. 노이즈 감소를 위해 십자형 및 길이 방향 필터링을 적용할 수 있습니다.

점 위치. 대비 기준 선택

점 위치 원칙(왼쪽) 및 S형 곡선과 그 도함수(오른쪽)

이미지에서 추출한 선형 프로파일에는 에지가 어두운 부분에서 밝은 부분으로(또는 그 반대로) 변이되는 형태로 나타납니다. 게이지를 따라 픽셀 값을 그래프로 만들 때, 이러한 변이는 S형 곡선으로 나타납니다. 이 곡선의 첫 번째 도함수는 변이점 주변의 피크를 보여줍니다. 대비가 강할수록 변이가 뚜렷해지며 피크가 높아집니다.

EasyGauge는 프로파일(빨간 곡선)을 따라 픽셀 값을 추출한 다음, 피크 분석을 사용하여 변이 위치를 판정합니다. 피크 면적 내의 모든 픽셀 값이 변이 위치 계산에 사용됩니다.

  • 변이점이 최소 2픽셀 너비의 거의 균일한 영역에 둘러싸인 경우에만 서브 픽셀 정밀도를 구현할 수 있습니다.
  • BWB 변이에는 상승하는 프로파일 곡선이 있으며, 피크는 양의 값을 가집니다. 그렇지 않으면, 곡선이 하락하며 피크가 음으로 확장됩니다.
  • BWB 또는 WBW 변이는 첫 번째 도함수가 아니라 EPointGauge(또는 동일한 경로)를 따른 회색조 프로파일상의 피크 분석을 기준으로 하므로 일반적으로 기본 임계값(20)을 사용하여 피크를 감지할 수 없습니다.

에는 상당한 대비를 갖는 에지를 감지하는 기본값과 함께 모든 점 측정 매개변수가 포함되어 있습니다.

: 공칭 점 위치(일반적으로 측정 전과 후가 다름).
Tolerance: Tolerance value and gauge orientations.
TransitionType, TransitionChoice, TransitionIndex: Peak selection strategies.
Threshold: Noise immunity.
MinAmplitude, MinArea: Peak strength.
Thickness, Smoothing: Local filter widths.
RectangularSamplingArea Sets sampling area (rectangular by default) to transverse filtering mode.
Measure: Measures the object.
- 단일 변이 모드에서, 적절한 점이 발견되면 가 True(참)를 반환합니다. 측정 결과를 얻으려면, 를 True(참)로 설정하여 이 위치가 확인된 점을 반환하도록 하십시오. (False(거짓) 기본값은 공칭 점 위치를 반환합니다).
- In multiple transition mode, NumMeasuredPoints returns the number of points found,
GetMeasuredPoint returns an EPoint object which contains located point information.
0과 GetNumMeasuredPoints-1 사이의 정수 색인이 통과되어야 합니다.
GetMeasuredPeak: Returns EPeak containing the peak's Area and Amplitude, and the delimiting coordinates along the probe segment (Start, Length and Center values).

임계값 레벨은 매우 중요하며,

  • 너무 높을 경우 상당량의 피크가 누락되고, 유효한 정밀도를 달성하기에 픽셀 값이 부족하게 됩니다.
  • 너무 낮을 경우 노이즈로 인해 허위 피크가 생깁니다.

이 딜레마를 해결하기 위해, EasyGauge 피크 선택 메커니즘은 낮은 대비 또는 허위 에지를 무시할 수 있으며, 변이 강도가 피크 진폭 및 면적을 기준으로 측정됩니다. 모든 에지 측정은 피크 진폭과 면적을 결정합니다. 둘 중 한 값이 최소 진폭 또는 최소 면적 아래로 떨어지면, 피크가 무시되며 해당 위치에 점이 없는 것으로 간주됩니다.

임계값 레벨 선택(왼쪽) 및 피크 진폭과 면적(오른쪽)

EasyGauge는 다중 변이 모드에서 한 번의 실행으로 여러 에지 점을 측정하고 이후 모든 결과를 가져올 수 있습니다.

다중 변이(왼쪽) 대 단일 변이(오른쪽)

가장 높은 피크, 가장 면적이 큰 피크, 게이지 중심에 가장 가까운 피크 또는 게이지의 한 선단에서 시작하여 N번째 나타난 피크라는 네 가지 기준을 바탕으로 가장 관련성 높은 단일 변이를 선택할 수 있습니다.

Choice: (1) best area, (2) best amplitude, (3) closest, (4) 3rd from the start

When several peaks have the same value (same area, same amplitude...), the last peak is selected.

피크 선택은 또한 변이 극성 즉, 흰색에서 검정색으로 또는 검정색에서 흰색으로(예; 양 또는 음의 피크) 또는 무관을 선택하여 정밀하게 조정할 수 있습니다.

검정색에서 흰색으로, 흰색에서 검정색으로 또는 극성 무관

이미지의 국소적인 사전 필터링으로 노이즈 영향을 줄일 수 있습니다.
횡단(길이 방향) 필터링은 이미지를 샘플링할 때 평행선 몇 개의 평균을 구합니다.
세로 방향(십자형) 균등 필터링 또한 결과 프로파일 곡선에 적용할 수 있습니다.

필터링을 위한 두꺼운 점 게이지

횡단 필터링은 평행 사변형 또는 직사각형(기본값) 내에 평행선 세그먼트를 배치합니다. 이 동작은 켜고 끌 수 있습니다.
각도가 0° 또는 90°에 가깝거나 두께가 5 미만일 경우 평행 사변형 모드가 직사각형보다 빠릅니다. 두께가 1일 경우 두 모드 사이에 차이가 없습니다.
두께에 따라 평행선의 수가 결정됩니다.
샘플링 영역은 모든 평행선 세그먼트가 포함된 가장 작은 구역입니다.

직사각형 샘플링 영역(왼쪽) 및 평행 사변형 샘플링 영역(오른쪽)

점 게이지의 예상 공칭 위치는 중심, X 축에 대한 방향 각도, 점 위치가 달라질 수 있는 길이 관용도에 의해 지정됩니다.

결과는 위치가 확인된 점(실제 위치)의 좌표와 변의 강도(진폭 및 면적)입니다.
낮은 값은 약한 에지를 나타내며, 신뢰할 수 없는 또는 정확하지 않은 측정을 의미할 수 있습니다.

EasyGauge의 기본 매개변수 및 작동 모드는 명확한 에지에 적합합니다. 더 복잡한 상황일 경우 매개변수 조정이 필요할 수 있습니다.

1. 게이지 점 위치 및 관용도를 설정합니다.
중심 위치와 방향은 샘플 이미지 또는 좌표 참조를 기준으로 손쉽게 결정됩니다. 관용도는 에지 위치 변화에 따라 결정됩니다. 관용도가 크면 에지를 발견할 가능성이 높아지지만, 허위 에지이거나 무관한 특징일 수 있습니다.
2. 노이즈 감소가 필요한지 결정합니다. 원하는 위치에 게이지를 배치하고 프로파일 곡선과 그 도함수를 관찰합니다(그래프로 표시되는 곡선을 관찰할 때 다양한 필터링 매개변수를 실험해보십시오). 곡선의 규칙성은 회색조 값의 분산을 나타냅니다.
위와 같은 계수를 설정하면 회색조 프로파일이 더 이상 변화하지 않습니다.
3. 임계값을 피크의 유효 부분이 충분한 픽셀(더 뛰어난 서브 픽셀 정밀도를 달성하기 위함)을 수용하기에 충분히 낮지만, 주변 이미지 노이즈보다는 낮지 않도록 설정합니다.
4. 피크 진폭 및 면적의 목록을 사용하여 약한 에지 또는 허위 에지를 제거합니다. 유효 피크 및 무효 피크를 따라 이러한 값을 그래프로 만들면 적절한 피크 무시 한계를 찾을 수 있습니다.
5. 모든 변이점이 필요한지 또는 가장 관련성 높은 변이점만 필요한지 선택합니다. 모두 필요하다면 하나씩 차례로 조회할 수 있습니다. 그렇지 않다면, 강도, 순서 또는 변이 극성(검정색에서 흰색으로 및/또는 그 반대)을 기준으로 점 선택 전략을 선택해야 합니다.